發展沿革列印宏衛科技成立於1998年,總部位於台北,在全球建立行銷聯網組織,自主開發生產線上與離線之整合性品管系統。 包括: 一、顯微鏡式奈米級3D形貌動態量測儀,應用於半導體、微機電和精密加工產業之結構3D尺寸量測和模態量測。 二、雷射和光學投影光柵整合之3D形貌量測儀,可量測微米至數公尺,其精度適用於各產業逆向工程之3D模型重建與高速尺寸量測。 三、微型光譜儀、線型掃描式與面型掃描式高光譜儀,可應用於生技、環境保護、材料分析、醫學研究等領域。